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ZY-LM铝膜测厚仪 铝膜厚度测试仪
≡铝膜测厚仪 铝膜厚度测试仪简单介绍 ≡
铝膜测试仪利用涡流原理制造: 即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时, 感应产生涡电流, 因而产生涡流磁场, 此涡流磁场反作用于原来激磁磁场, 使传感器阻抗发生变化, 然后通过检测电路并进行放大, 输出与厚度相对应模拟电压。
为了减少漂移即减少重复性误差和提高测量准确度，本仪器应用智能功能单片机系统，即对测厚过程中非线性和零漂进行校正，因而提高了测量准确度。
≡ 铝膜测厚仪 铝膜厚度测试仪技术参数 ≡
可测量范围与量程：被测薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
测量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08µm）
方阻95～0.47Ω/□
精确度：测量准确度 厚度 ±(20Å+2%读数)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500Å范围）
读数重现性 10Å (同一测量点)
铝膜测厚仪 铝膜厚度测试仪